Newsletter Dec 15 - Aleo, modules testés par le VDE

Suite à une série de tests réalisée par le VDE, suivant la norme TS IEC 62804-1:2015-08, l’ensemble de la gamme d’aleo a été certifiée en Novembre comme étant résistante à l’effet de Potential Induced Degradation (PID).

Rappel sur l’effet PID

L’effet PID est un phénomène qui peut apparaître lorsqu’une différence de potentiel négative apparaît entre la cellule et la terre (via le cadre, lui-même relié à la terre). Ce qui peut causer des pertes de performance importantes au fil du temps voire même, dans les cas les plus sévères, mener à la délamination du module. Cet effet est accentué par la chaleur et l’humidité.

Aleo teste ses produits depuis 2011 selon ses propres critères alors qu’aucun protocole de test n’était officiellement en vigueur.

 

La norme TS IEC 62804-1:2015-08

Afin d’évaluer la sensibilité d’un module à l’effet PID, une norme a été développée basée sur des tests réalisés en chambre climatique dans les conditions suivantes :

  • Temps du test : 96h
  • Température : 60°C
  • Humidité relative : 85%
  • Différence de potentiel : -1000V

 Le test est considéré comme concluant si les produits remplissent les conditions ci-dessous :

  • Perte de puissance : < 5%
  • Isolement à sec : > 40 MΩm²
  • Isolement sous humidité : > 40 MΩm²

 Les résultats pour les modules aleo ont été très concluants sur les 3 items :

  • Perte de puissance : -0.8%
  • Isolement à sec : > 500 MΩm²
  • Isolement sous humidité : > 500 MΩm²

 Un investissement dans une installation photovoltaïque n’a de sens que si elle fonctionne correctement tout au long de sa vie. Aleo s’engage à faire en sorte que ses modules soient les plus fiables possible pour que ses clients investissent en toute sérénité.

 

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